政策法规
《(20~150)kV X射线束半值层仪校准规范》已完成征求意见稿
时间:2020-08-17 12:01  浏览:266
  由中国测试技术研究院等单位起草的《(20~150)kV X射线束半值层仪校准规范》已完成征求意见稿。现发给专家审查,敬请各位对征求意见稿提出您的建议和意见,并反馈至中国测试技术研究院许诗朦的邮箱472118564@qq.com,联系电话:18030583657/028-84404895,以便在规范审定会上审定。

       更多详情,请登录中国计量协会官方网站查询。

       节选该规范部分内容:

       适用范围

       本规范适用于放射诊断(20~150)kV X射线的半值层厚度检测仪的校准,其半值层范围(0.1~14)mmAl。

       引用文件

       《GB/T 19629-2005医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计》、《IEC 61267-2005 医用诊断X射线设备–测量特性使用的辐射条件(Medical diagnostic X-ray equipment – Radiation conditions for use in the determination of characteristics)》、《IAEA TRS 457放射诊断剂量学:国际规定(Dosimetry in Diagnostic Radiology:An International Code of Practice)》等等。

       半值层仪由探测器、减弱过滤和测量单元(或静电计)三大部分组成。其原理是通过测量穿过不同厚度的附加过滤片射线强度,计算初始辐射强度减弱一半时的滤片厚度,得到半值层的值。

       测量标准及其他测量设备

       千分尺:测量范围(0~25)mm,精度优于0.01mm。

       标准诊断水平剂量计:测量范围 (6×10-5~1) Gy/min,年稳定性不超过±1%,其电离室在辐射质RQR 3~RQR 10(和/或RQA 3~RQA 10)及RQR-M1~

       RQR-M4范围的能量响均不超过±2.6%。

       衰减过滤片:由纯度优于99.9%、均匀性优于0.01mm的不同厚度铝片组成,其组合厚度应满足(0.05~37)mmAl。用于40kV以上测量时,均匀性优于10μm,40kV以下时优于5μm。

       温度计:测量范围(0~50)℃,最小分度值不大于0.1 ℃。

       气压计:测量范围(80~106)kPa,最小分度值不大于0.1 kPa。

       定位系统:探测器的定位夹具应使用低原子序数材料做成,定位装置应便于探测器和面积准直器的调节,可采用光学、激光等方法定位探测器和准直器,定位偏差不超过±1 mm。

       辐射场

       X射线辐射源的管电压范围(20~150)kV,管电压误差不超过±2.0%。

       (40~150)kV的管电压误差不超过±2.0%,(20~40)kV的管电压误差不超过±0.5kV。常规诊断管电压误差不超过±2.0%,乳腺管电压误差不超过±0.5kV。

       辐射场的辐射质应与附录A一致。

       辐射场为准直束辐射场,在测试平面,推荐射野10 cm×10 cm或φ10 cm。

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       半值层标准值测试示意图见图1,测试平面与焦点间距离d1推荐为1000 mm,测试平面与系列过滤片距离d2推荐为500mm,测试平面上射野推荐为10 cm×10 cm或φ10 cm。按照附录A 中IEC 61267推荐的系列辐射质建立辐射场或采用不同靶材和附加过滤的乳腺辐射质建立辐射场。在每个辐射质,用标准诊断水平剂量计测量射线穿过不同厚度的铝片的射线强度,通过作图法或最小二乘法拟合,确定射线强度减弱到初始值一半时的Al片厚度,该厚度即为该辐射质的半值层(HVL)。

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       示值误差可由相对示值误差或示值误差表示。被校仪器校准示意图见图2,测试平面与焦点间距离d推荐为1000 mm,测试平面上射野推荐为10 cm×10 cm或φ10 cm。将被校仪器探测器置于测试平面,探测器中心位于射线束轴上,且其中轴线与射线束轴垂直。
 
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