很多测试工程师都会发现半导体控温装置的结果往往都不能预见，即使是用先进的ATE也不能保证测试结果的正确性。很多情况下，必须对产品重新测试，浪费了大量时间。半导体控温装置电气测试可信度简而言之就是衡量一个测试设备提供给使用者测试结果正确性的指标。一个电气测试可信度很高的测试设备无需作重复的测试，从而节省大量宝贵的测试时间。 如果把一次测试下来的失效器件重测，其中有些可能会通过测试，原因在于原始的错误可能由测试设备造成的，而非器件本身。这样的失效被称为“非正常失效”，测试可信度可以通过衡量这些“非正常失效”的数量来计算。

　　半导体控温装置电气测试非正常失效产生有很多原因，可能是DUT和测试头之间接触不良、测试设备硬件问题、不合理的硬件搭构 、金属接触面氧化或污染导致接触失效、测试环境湿度过高、GR&R过高，其中一条是很多测试工程师面临的普遍问题，其原因有DUT引脚和接触面没有对齐、接触器件老化、接触器件氧化和污染、接触面湿度太大。

　　对于使用半导体控温厂家的控温设备用户来说，在使用之前需要仔细了解其使用说明，避免不当使用造成半导体控温装置故障。