GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。
GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
2020-08-27 17:17 浏览:118 下载:45
| 标准类别 | 国家标准 |
|---|---|
| 标准状态 | 现行有效 (标准状态仅供参考) |
| 颁发部门 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期 | 2014-12-05 |
| 实施日期 | 2015-05-01 |
| 废止日期 |