品牌:普赛斯仪表
尺寸:425*255*106mm
测试范围:0～300V/0～3A
工作环境:25±10℃
起订:1台
供应:10000台
发货:30天内
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数字源表是电学测试的B备仪器之一，是一种多用途仪器、特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、太阳能电池、印刷电子技术等领域，源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，普赛斯数字源表能广泛的应用于各种电气特性测试中，以下以光耦应用为例，介绍普赛斯源表在光耦上面的应用：
光耦测试
阻值测试本质上是FIMV（加电流测电压）或FVMI（加电压测电流），获取IV曲线后计算阻值。
普赛斯源表具有丰富的电压电流量程：
电压范围0.3mV~300V，电流范围100pA~1A
完善的上位机监测功能：
支持多通道同步连续扫描，支持数据导出CSV
普赛斯仪表光耦测试方案
N≤3路光耦测试：
推荐N台S100
4≤N ≤12路光耦测试：
推荐CS400子卡+1003C主机：
CS400支持4通道测试，1003C主机zui多支持3卡，12通道使用3*CS400+1*1003C
12≤N ≤40光耦测试：
推荐CS400子卡+1010C主机：
CS400支持4通道测试，1010C主机zui多支持10卡， 40通道使用10*CS400+1*1003C
40≤N 路光耦测试：
使用上述主机组合配置
普赛斯源表具体参数如下：
S100测试范围：
CS400测试范围：
以上是关于光耦电性能测试用源表的方案介绍，更多有关光耦电性能测试用源表的信息找普赛斯仪表专员为您介绍，详询一八一四零六六三四七六