蔡司Xradia610&620Versa采用改进的光源和光学技术
X射线计算机断层扫描成像领域面临的两大挑战是：实现大尺寸样品和大工作距离下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的两款X射线显微镜凭借以下优势完美解决了这些挑战：系统可提供高功率的X射线源，显著提高X射线通量，从而加快了断层扫描速度。工作效率提高达两倍，而且不会影响空间分辨率。同时，X射线光源的稳定性得到提升，使用寿命也更长。
主要特性包括：
最高空间分辨率500nm，最小体素40nm
与蔡司Xradia500Versa系列相比，工作效率提高两倍
更加简便易用，包括快速激活源
能够在较大的工作距离下对更广的样品类型和尺寸的样品进行亚微米特征的观察
先进科研和工业领域的更多应用将因此而受益
这两款用途广泛的仪器可以为不同领域的科研机构和工业客户带来更高的工作效率和价值，助力他们的研究和探索。
持续改进和可升级性
蔡司X射线显微镜旨在通过不断创新和发展进行升级和扩展，以保护我们客户的利益。这样可以确保随着前沿技术的不断进步，显微镜技术也能向前发展，从蔡司XradiaContextmicroCT到蔡司Xradia500/510/520Versa，再到现在新增的蔡司Xradia610/620Versa，用户都可以将系统升级至最新的X?射线显微镜。