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    低阻抗分析仪的参数

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技术原理
低阻抗分析仪的技术参数
时间:2018-10-07 11:30  浏览:82

    手持单元可配置多种探头测量低阻抗应用于低阻抗测量范围,带4针探头;10-2~106一键操作,测量稳定专利的4针探头技术外接USB便于更换电池组。

 

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    低阻抗分析仪的参数


    1、量程范围扩大至0.001*10-4~9.999*107Ω


    2、7.5英寸真彩色640*480TFT-LCD触摸屏操作界面,更方便快捷操作


    3、增加硅晶体测试模式


    4、新增加一键自动测试完毕后测试自动停止并保持测试值;测试样品时长科设定定时模式:Auto-hold和TimerModel


    5、可测试超低导电材料


    6、测试电流施加的极性可转换:测试更准确


    7、可根据样品尺寸自动计算RCF值,数据可保存、USB口数据传输、及资料管理


    8、可更换MCP多种探头;四种测试单位Ω、Ω/口、Ω.cm、S/cm转换


    特性:


    基于4探针测试原理可以精准而快速的测试材料的低电阻特性;4-pin测试原理可以有效消除探头接触样品的接触电阻及导线的电阻;


    MCP系列镀金弹簧探针针距恒定,且与测试样品接触的压力恒定。


    用途:


    用于工程生产、质量控制、研发;


    应用领域:


    1、导电涂料、导电油墨、导电胶电阻粘贴(碳等),导电塑料、导电橡胶、矽晶圆


    2、导电薄膜,透明film、ITO玻璃、金属镀膜、喷金属层、金属板、防静电材料、电磁屏蔽材料、导电纤维、导电陶瓷等。


    3、镁合金电镀,表面处理等。

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