两种光谱的能量分布是描述滤光器滤过的光辐射在低于400mm波长紫外光范围的辐照度值和允许的偏差。此外CIE No.85中有波长至800nm的辐照度标准,因为只在该范围内,氙弧辐射能更好地模拟太阳辐射。
曝露设备在洒试过程中,由于氙弧和滤光系统的老化,辐照度可能会变化。这种变化尤其发生在对聚合物材料光化学影响的紫外光范围。因此不仅要计量曝露的时间,而且要测量400nm以下的波长范围或在规定波长例如340nm处的曝露辐射能,并将这些值作为涂层老化的参照值。
两种光谱的能量分布是描述滤光器滤过的光辐射在低于400mm波长紫外光范围的辐照度值和允许的偏差。此外CIE No.85中有波长至800nm的辐照度标准,因为只在该范围内,氙弧辐射能更好地模拟太阳辐射。
曝露设备在洒试过程中,由于氙弧和滤光系统的老化,辐照度可能会变化。这种变化尤其发生在对聚合物材料光化学影响的紫外光范围。因此不仅要计量曝露的时间,而且要测量400nm以下的波长范围或在规定波长例如340nm处的曝露辐射能,并将这些值作为涂层老化的参照值。