镀层测厚仪XF-P3 - 技术原理 - 知识

镀层测厚仪XF-P3

时间：2023-07-27 12:58 浏览：1240

镀层测厚仪XF-P3是西凡仪器面向镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器，内置四核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。