所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。根据激光散射原理，颗粒大小不同，散射光能量随散射角度的分布也不同，此种分布称为散射谱。激光粒度仪就是通过检测颗粒群的散射谱反演颗粒大小及其分布的。

    1、为什麽散射/衍射激光粒度仪必须采用激光作光源

    激光粒度仪是通过检测颗粒的散射谱来分析颗粒大小与分布的，因此能否获得清晰的散射谱至关重要，激光是一种准直性，单色性良好的光源，只有采用激光才能在散射/衍射粒度仪器中得到清晰的散射谱分布。用多种波长混合的光源不可能获得清晰的散射谱，只能获得多种散射谱的叠加，因此不能用于粒度仪。

    在多种激光器中半导体激光与气体激光相比，气体光源波长短，线宽窄，单色性好，稳定性远优于半导体光源。因此微纳与大多数公司选用了气体激光器作为测量光源。

    2、激光粒度仪与其他方法相比有什么优势？

    激光粒度仪的光路实际是一个二维傅立叶变换器，因此具有傅立叶变换的许多特点：1、所有颗粒的散射信息是以光速并行传输到达光电探测器的，因此速度快无与伦比；2、探测器可以做的非常窄大约几个微米，因此分辨率非常高；3、测试过程颗粒散射不会受到人为因素的干扰，因此测试重复性超群；4、根据傅立叶变换的平移不变性，颗粒在样品池中的运动速度不会影响频谱分布，因此适用于动态颗粒的测试，这是其他粒度测试方法所无法比拟的，这成为了颗粒在线测试理论依据。

    3、激光粒度仪测量下限是多少？

    激光粒度仪测量粒度的原理是MIE散射理论。 MIE散射理论用数学语言描述了折射率为n、吸收率为m的特定物质的，粒径为d球型颗粒，在波长为λ单色光照射下，散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据MIE散射理论可以看出颗粒越大，前向散射越强而后向散射越弱；随着颗粒粒径的减小，前向散射迅速减弱而后向散射逐渐增强。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列，测试颗粒的散射谱，由此确定颗粒粒径的大小。这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的仪器为静态激光粒度仪。

    但是当颗粒粒径小到一定的程度dm，与另一种更小颗粒dm-δ相比，如果二种颗粒的散射谱非常相似，以至不能被光电探测器阵列所分辨，就认为达到了激光粒度仪的测量极限，此粒径dm就是激光粒度仪的测量下限。

    此极限还与激光波长有关，研究表明红光635nm波长的激光测量极限为50纳米，而蓝光405nm波长的激光测量理论极限为20nm。

    理论上，静态激光粒度仪欲分辨纳米级的颗粒至少需要二个条件：1、具有测量后向散射的光电探测器阵列，2、需要用波长更短的激光器。在可见光的范围内，20nm是静态激光粒度仪的理论测量下限。